超聲波探傷中試塊的選擇

NB/T47013—2015標(biāo)準中規(guī)定的標(biāo)準試塊有CSK-IA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA。CSK-ⅠA試塊用于超聲波儀器、探頭系統(tǒng)性能校準和檢測校準，CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA試塊用于超聲波檢測校準，CSK-IA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA試塊適用于檢測曲面率半徑大于等于250mm的焊接接頭超聲檢測，CSK-IA、CSK-ⅡA和CSK-ⅣA試塊適用于工件壁厚為6～500mm的焊接接頭超聲檢測。其中，CSK-ⅡA適用于工件壁厚范圍為6～200mm的焊接接頭，CSK-ⅣA系列試塊適用于工件壁厚大于200～500mm的焊接接頭。對于工件壁厚范圍為8～120mm的焊接接頭超聲檢測，也可以采用CSK-ⅢA試塊，但應(yīng)對靈敏度進行適當(dāng)調(diào)整，與CSK-ⅡA試塊保持一致。

在檢測不同工件厚度對接接頭時，可根據(jù)較大工件厚度確定試塊厚度，可根據(jù)簿側(cè)工件厚度確定掃查靈敏度和質(zhì)量等級。CSK-ⅡA、CSK-ⅣA試塊的人工反射體為長橫孔，其反射波在理論上與焊縫光滑的直線熔渣相似。同時，利用橫孔對不同的聲束折射角也可以得到相等反射面，但需要深度不同的對比孔。長橫孔遠場變化規(guī)律因距離變化而類似于未焊透。在長橫孔試塊上繪制曲線，測定靈敏度，適用于未焊透類型缺陷的檢測。CSK-ⅢA試塊的人工反射體為短橫孔。短橫孔遠場變化規(guī)律因距離變化類似于球孔。在短橫孔試塊上繪制曲線時，檢測靈敏度可有效控制點狀缺陷，但對中厚板而言靈敏度偏高。